Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000
La prueba de envejecimiento es una evaluación crítica de la estabilidad operativa de un chip en condiciones extremas de temperatura. Al exponer el chip a entornos prolongados de alta o baja temperatura y monitorear su rendimiento, el Comprobador de Envejecimiento de Chips CFT1000 evalúa eficazmente la fiabilidad y estabilidad del dispositivo.
- HC
- PORCELANA
- 1 MES
- 3000/MES
- información
El Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 Realiza pruebas exhaustivas de envejecimiento conectándose al dispositivo bajo prueba (DUT) mediante cables y accesorios de alta temperatura. Tras el encendido, el Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 monitorea continuamente múltiples parámetros de rendimiento del DUT en condiciones de temperatura extremas, incluidos voltaje, corriente, frecuencia, temperatura, lectura/escritura de memoria y funciones de comunicación, para determinar si el chip cumple con los estándares de calificación.
El Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 Es ideal para pruebas de quemado de chips de reloj RTC y otros dispositivos semiconductores, y admite hasta 480 DUT en un solo ciclo de prueba. Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 Puede medir señales críticas como voltaje, corriente, frecuencia y temperatura, con un amplio rango de temperatura. -55℃ a 155℃La comunicación con el DUT se realiza a través de I2C, SPI o RS485 interfaces, mientras que la Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 se conecta a una PC host a través de USB/Ethernet. Además, el Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 Cuenta con una fuente de alimentación de doble canal incorporada para configuraciones de prueba flexibles.
Software y automatización fáciles de usar
El software del Comprobador de Envejecimiento de Chip CFT1000 admite los modos de prueba manual y automatizado. En el modo automatizado, los usuarios pueden importar archivos de script de prueba para configurar los parámetros automáticamente. Tras hacer clic en el botón "Ejecutado", el... Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 Ejecuta la secuencia de prueba en modo de una sola pasada o de bucle. Todos los datos y resultados de la prueba se registran automáticamente en un informe generado por computadora para su posterior análisis.
Configuración y funcionamiento de la prueba
El dispositivo bajo prueba se coloca en el zócalo del dispositivo de prueba, mientras que el dispositivo y el dispositivo bajo prueba se alojan dentro de una cámara térmica.
El Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 y el PC permanecen fuera de la cámara, conectados mediante cables de alta temperatura (para señal/alimentación) y USB (para comunicación de datos).
Para comenzar la prueba:
Conecte la fuente de alimentación de CA y encienda el Probador de envejecimiento de chip CFT1000.
Lanzar el Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 Interfaz de software.
Inicie el proceso de prueba con un solo clic.
Resumen de características clave
Pruebas de alto rendimiento: Admite 480 DUT simultáneamente.
Amplio rango de temperatura: -55℃ a 155℃ para simulación de entornos extremos.
Soporte para múltiples interfacesrt:I2C, SPI, RS485 para comunicación DUT flexible.
Informes automatizados: Genera registros de pruebas e informes en tiempo real.
El Comprobador de envejecimiento de chips CFT1000 garantiza una validación eficiente y precisa de la confiabilidad de los semiconductores, lo que lo convierte en una herramienta esencial para la producción de circuitos integrados y el aseguramiento de la calidad.
